高(gao)低(di)(di)溫濕熱實驗(yan)箱(xiang)主要(yao)(yao)用(yong)于對產(chan)品(pin)按照國家標(biao)準要(yao)(yao)求或用(yong)戶自(zi)定要(yao)(yao)求，在低(di)(di)溫、高(gao)溫、高(gao)溫高(gao)濕條件下(xia)，對產(chan)品(pin)的物理(li)以及其(qi)他相(xiang)關(guan)特性進行(xing)環境(jing)模(mo)擬測試(shi)，測試(shi)后，通(tong)過檢測，來判(pan)斷產(chan)品(pin)的性能。
更新時間：2023-11-20
廠商性質：生產廠(chang)家
用(yong)于測試光(guang)伏組(zu)件(jian)(jian)，主(zhu)要是單晶硅(gui)組(zu)件(jian)(jian)，地(di)面用(yong)晶體(ti)硅(gui)光(guang)伏組(zu)件(jian)(jian)，地(di)面用(yong)薄膜光(guang)伏組(zu)件(jian)(jian)等一系列(lie)的光(guang)伏組(zu)件(jian)(jian)進行紫外光(guang)加速(su)耐候試驗可以再現陽光(guang)所(suo)產生的破壞。
更新時間：2023-11-18
廠商性質：生產(chan)廠家
光(guang)伏(fu)(fu)組(zu)(zu)件(jian)溫(wen)(wen)濕度循環(huan)試(shi)驗箱用于(yu)測試(shi)光(guang)伏(fu)(fu)組(zu)(zu)件(jian)，主要是單晶硅(gui)組(zu)(zu)件(jian)，地(di)面用晶體(ti)硅(gui)光(guang)伏(fu)(fu)組(zu)(zu)件(jian)，地(di)面用薄膜光(guang)伏(fu)(fu)組(zu)(zu)件(jian)等(deng)一系列的關伏(fu)(fu)件(jian)進(jin)行高溫(wen)(wen)、低溫(wen)(wen)、交變濕熱度或恒(heng)定試(shi)驗的溫(wen)(wen)度環(huan)境變化后(hou)的參(can)數及性能(neng)
更新時間：2023-11-18
廠商性質：生產廠家
高低溫濕熱試(shi)驗箱是航空、汽車、家電(dian)、科研(yan)(yan)等領域*的(de)測(ce)(ce)試(shi)設備，用于(yu)測(ce)(ce)試(shi)和(he)確定(ding)電(dian)工(gong)、電(dian)子及其他(ta)產(chan)品及材料進行高低溫、或恒定(ding)濕熱試(shi)驗的(de)溫度環(huan)境變化后的(de)參數及性能.適用于(yu)學校(xiao)，工(gong)廠，軍工(gong)，研(yan)(yan)位，等單位。
更新時間：2023-11-18
廠商性質：生產廠(chang)家
